MICROSCOPIO DE INSPECCIÓN DE LIMPIEZA

Microscopio de inspección de limpieza desarrollado para garantizar el control de la contaminación por partículas en componentes críticos de fabricación. Diseñado como una solución llave en mano, combina hardware y software en un sistema automatizado que facilita la adquisición, análisis y documentación de datos, cumpliendo tanto con normativas internas como con estándares internacionales de calidad.

Gracias a su interfaz intuitiva, el CIX100 guía paso a paso a operadores de cualquier nivel de experiencia, minimizando errores humanos y reduciendo los tiempos de inspección. Su óptica UIS2 de alto rendimiento, junto con algoritmos avanzados y la tecnología de aprendizaje profundo TruAI, aseguran resultados rápidos, fiables y reproducibles, con clasificación en tiempo real de partículas metálicas y no metálicas desde 2,5 μm hasta 42 mm.

Características principales:

• Solución preconfigurada y precalibrada, lista para su uso inmediato.

• Óptica UIS2 de alta calidad con iluminación optimizada para inspección de limpieza técnica.

• Clasificación automática en vivo de partículas reflectantes y no reflectantes en un solo escaneo.

• Software intuitivo con guía paso a paso y gestión de derechos de usuario para máxima productividad.

• Análisis en tiempo real con visualización inmediata de resultados y estadísticas de conformidad.

• Compatibilidad con múltiples portamuestras (circulares y rectangulares) para diversas aplicaciones.

• Generación de informes profesionales en un solo clic, adaptables a normativas internacionales.

• Modo de microscopio ampliable con soluciones analíticas opcionales para estudios de materiales.

• Tecnología TruAI de aprendizaje profundo para un análisis más robusto y diferenciado de partículas.

• Automatización integral que garantiza reproducibilidad, repetibilidad y mínima intervención manual.